专利号：CN202110181815.4
专利名称：电极进样DBD微等离子体原子发射光谱检测系统及方法
申请日：2021-02-08
专利类型：授权发明
支付方式：面议
支付标准：面议
项目详情：一种电极进样DBD微等离子体原子发射光谱检测系统及方法，属于原子发射光谱检测设备和分析领域。该检测系统包括DBD微等离子体激发源、光谱检测系统；DBD微等离子体激发源中的样品电极用于富集待测物；样品电极富集待测物的一端插入石英管的管内；连接调压器的霓虹灯电源的输出端分别和高压导线以及样品电极未富集待测物的一端连接；石英管上带有的支管和气路系统连接；光谱检测系统包括透镜、光纤和微型光谱仪，透镜通过光纤和微型光谱仪连接。其方法为：通过蠕动泵以恒定流速将含有待测物的样品溶液流过样品电极表面预浓缩，干燥，然后进行测量。该系统和方法能够原位分析电极表面所吸附的待测物，非常适合批量样品的快速高通量分析。
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